Atomic-scale insights into thin-film solar cells by Atom Probe Tomography

Choi, P.

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Atomic-scale insights into thin-film solar cells by Atom Probe Tomography

Choi, P. (2013). Atomic-scale insights into thin-film solar cells by Atom Probe Tomography. Talk presented at Korean German Forum on Nanotechnology. Düsseldorf, Germany. 2013-08-28.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-21F2-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-41BC-F

資料種別: 講演

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Choi, P.¹, 著者

所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384

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言語: eng - English

日付: 作成: 2013-08

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 673107

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