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  Atomic resolution interface study of VN and Cu films on MgO using Cs corrected TEM

Dehm, G. (2013). Atomic resolution interface study of VN and Cu films on MgO using Cs corrected TEM. Talk presented at Microscopy Conference MC 2013. Regensburg, Germany. 2013-08-25 - 2013-08-30.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-21FA-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-AB1B-7
Genre: Vortrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Dehm, Gerhard1, Autor           
Affiliations:
1Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 669374
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy Conference MC 2013
Veranstaltungsort: Regensburg, Germany
Start-/Enddatum: 2013-08-25 - 2013-08-30
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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