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  Atomic-scale compositional characterization of a nanocrystalline AlCrCuFeNiZn high-entropy alloy using atom probe tomography

Pradeep, K., Wanderka, N., Choi, P., Banhart, J., Murty, B. S., & Raabe, D. (2013). Atomic-scale compositional characterization of a nanocrystalline AlCrCuFeNiZn high-entropy alloy using atom probe tomography. Acta Materialia, 61(12), 4696-4706. doi:10.1016/j.actamat.2013.04.059.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Pradeep, K., Autor
Wanderka, N., Autor
Choi, P.1, Autor           
Banhart, J., Autor
Murty, B. S., Autor
Raabe, D.2, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013-07
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 673099
DOI: 10.1016/j.actamat.2013.04.059
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Acta Materialia
  Alternativer Titel : Acta Mater.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 61 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 4696 - 4706 Identifikator: -