Characterization of Cu(In,Ga)Se2 grain boundaries using atom probe tomography

Cojocaru-Mirédin, O.; Schwarz, T.; Choi, P.; Würz, R.; Raabe, D.

Characterization of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using atom probe tomography

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Würz, R., & Raabe, D. (2013). Characterization of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using atom probe tomography. Poster presented at 2013 MRS Spring Meeting & Exhibit, San Francisco, CA, USA.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2440-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-9162-B

資料種別: ポスター

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Cojocaru-Mirédin, O.¹, 著者
Schwarz, T.², 著者
Choi, P.², 著者
Würz, R., 著者
Raabe, D.³, 著者

所属:
1Interface Design in Solar Cells, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863387
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
3Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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言語: eng - English

日付: 作成: 2013-04

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 655852

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