Characterization of Cu(In,Ga)Se2 grain boundaries using atom probe tomography

Cojocaru-Mirédin, O.; Schwarz, T.; Choi, P.; Würz, R.; Raabe, D.

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Characterization of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using atom probe tomography

Cojocaru-Mirédin, O., Schwarz, T., Choi, P., Würz, R., & Raabe, D. (2013). Characterization of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries using atom probe tomography. Poster presented at 2013 MRS Spring Meeting & Exhibit, San Francisco, CA, USA.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2440-3 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-9162-B

Genre: Poster

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Urheber:
Cojocaru-Mirédin, O.¹, Autor
Schwarz, T.², Autor
Choi, P.², Autor
Würz, R., Autor
Raabe, D.³, Autor

Affiliations:
1Interface Design in Solar Cells, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863387
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
3Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381