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  Measurement of the indium concentration in high indium content InGaN layers by scanning transmission electron microscopy and atom probe tomography

Mehrtens, T., Schowalter, M., Tytko, D., Choi, P.-P., Raabe, D., Hoffmann, L., et al. (2013). Measurement of the indium concentration in high indium content InGaN layers by scanning transmission electron microscopy and atom probe tomography. Applied Physics Letters, 102(13): 132112. doi:10.1063/1.4799382.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-25CE-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-E3DE-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Mehrtens, Thorsten1, Autor           
Schowalter, Marco1, Autor           
Tytko, Darius2, Autor           
Choi, Pyuck-Pa2, Autor           
Raabe, Dierk3, Autor           
Hoffmann, Lars4, Autor           
Jönen, Holger4, Autor           
Rossow, Uwe4, Autor           
Hangleiter, Andreas4, Autor           
Rosenauer, Andreas1, Autor           
Affiliations:
1Institut für Festkörperphysik, Universität Bremen, Otto-Hahn-Allee 1, Bremen, Germany, ou_persistent22              
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
3Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
4Institute of Applied Physics, TU Braunschweig, 38106 Braunschweig, Germany, persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013-04-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 668578
DOI: 10.1063/1.4799382
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: 4 Band / Heft: 102 (13) Artikelnummer: 132112 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223