Atomic-scale analysis of Cu(In,Ga)Se2 grain boundaries

Schwarz, T.; Cojocaru-Mirédin, O.; Choi, P.; Würz, R.

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Atomic-scale analysis of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries

Schwarz, T., Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., & Würz, R. (2012). Atomic-scale analysis of Cu(In,Ga)Se₂ grain boundaries. Talk presented at 27th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Frankfurt a. M., Germany. 2012-09-25 - 2012-09-28.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2743-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-D325-6

資料種別: 講演

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Schwarz, T.¹, 著者
Cojocaru-Mirédin, O.¹, 著者
Choi, P.¹, 著者
Würz, R., 著者

所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-09

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 636064

学位: -

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