Advanced applications of SEM-based electron diffraction techniques for the 
characterization of deformation structures of new steels

Zaefferer, S.

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Advanced applications of SEM-based electron diffraction techniques for the characterization of deformation structures of new steels

Zaefferer, S. (2012). Advanced applications of SEM-based electron diffraction techniques for the characterization of deformation structures of new steels. Talk presented at E-MRS 2012, Strasbourg, France. Strasbourg, France. 2012-05-16.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-299B-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-4221-3

資料種別: 講演

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Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-05

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 626180

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