Thin Film Metrology

Erbe, A.

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Thin Film Metrology

Erbe, A. (2012). Thin Film Metrology. Talk presented at Seminar "Thin Film Metrology" (together with SENTECH Instruments). MPIE, Düsseldorf, Germany. 2012-03-01 - 2012-03-01.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2B36-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2B38-1

Genre: Vortrag

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Urheber:
Erbe, A.¹, Autor

Affiliations:
1Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358