Application of advanced diffraction techniques in the SEM

Zaefferer, S.

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Application of advanced diffraction techniques in the SEM

Zaefferer, S. (2012). Application of advanced diffraction techniques in the SEM. Talk presented at EMC 2012. Manchester, UK. 2012-09-19.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DDD-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-425D-0

資料種別: 講演

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Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-09

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 625267

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