Advanced analysis of 3D EBSD data obtained from FIB-EBSD tomography

Zaefferer, S.; Konijnenberg, P.; Khorashadizadeh, A.; Chen, J.

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Advanced analysis of 3D EBSD data obtained from FIB-EBSD tomography

Zaefferer, S., Konijnenberg, P., Khorashadizadeh, A., & Chen, J. (2012). Advanced analysis of 3D EBSD data obtained from FIB-EBSD tomography. Talk presented at Microscopy & Microanalysis 2012. Phoenix, AZ, USA. 2012-08-01.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-2DF5-7 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-425F-C

資料種別: 講演

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Zaefferer, S.¹, 著者
Konijnenberg, P.¹, 著者
Khorashadizadeh, A.¹, 著者
Chen, J.², 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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言語: eng - English

日付: 作成: 2012-08

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 626187

学位: -

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