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Electron diffraction-based techniques in the SEM: Do they give you everything you ever wanted to know about your sample?

Zaefferer, S. (2011). Electron diffraction-based techniques in the SEM: Do they give you everything you ever wanted to know about your sample?. Talk presented at XIVth ICEM. Wisła, Poland. 2011-06-29.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3136-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-3E5E-B

資料種別: 講演

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作成者

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作成者:
Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

内容説明

資料詳細

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言語: eng - English

日付: 作成: 2011-06

出版の状態: 不明

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 626174

学位: -

関連イベント

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イベント名: XIVth ICEM

開催地: Wisła, Poland

開始日・終了日: 2011-06-29

招待講演: 招待

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