Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods

Alkauskas, A.; Deak, P.; Neugebauer, J.; Pasquarello, A.; van de Walle, C. G.

doi:10.1002/9783527638529

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Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods

Alkauskas, A., Deak, P., Neugebauer, J., Pasquarello, A., & van de Walle, C. G. (Eds.). (2011). Advanced Calculations for Defects in Materials: Electronic Structure Methods (WILEY-VCH). Weinheim, Germany: WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-318C-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-318E-7

資料種別: 書籍

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Alkauskas, A., 編集者
Deak, P., 編集者
Neugebauer, J.¹, 編集者
Pasquarello, A., 編集者
van de Walle, C. G., 編集者

所属:
1Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863337

内容説明

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言語: eng - English

日付: 出版: 2011-06-18

出版の状態: 出版

ページ: 384

出版情報: Weinheim, Germany : WILEY-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, WILEY-VCH

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 626167
ISBN: 978-3-527-41024-8
DOI: 10.1002/9783527638529

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