A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of 
EBSD datasets

Davut, K.; Zaefferer, S.

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A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets

Davut, K., & Zaefferer, S. (2011). A new large-area mapping technique to improve the statistical reliability of EBSD datasets. Talk presented at Royal Microscopy Society (RMS) EBSD 2011 Meeting. Düsseldorf, Germany. 2011-03-28 - 2011-03-30.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3271-E 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3273-A

資料種別: 講演

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Davut, K.¹, 著者
Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

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出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 580676

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