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  Application of thin-film interference coatings in infrared reflection spectroscopy of organic samples in contact with thin metal films

Reithmeier, M., & Erbe, A. (2011). Application of thin-film interference coatings in infrared reflection spectroscopy of organic samples in contact with thin metal films. Applied Optics, 50(9), C301-C308. doi:10.1364/AO.50.00C301.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3289-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-328B-5
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Reithmeier, M.1, 著者           
Erbe, A.1, 著者           
所属:
1Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2011-03-20
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 529222
DOI: 10.1364/AO.50.00C301
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Applied Optics
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 50 (9) 通巻号: - 開始・終了ページ: C301 - C308 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -