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  Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar cells

Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P., Wuerz, R., & Raabe, D. (2011). Atomic-scale characterization of the CdS/CuInSe2 interface in thin-film solar cells. Applied Physics Letters, 98, 103504-1-103504-3. doi:10.1063/1.3560308.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3425-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3427-6
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Cojocaru-Mirédin, O.1, Autor           
Choi, P.1, Autor           
Wuerz, R., Autor
Raabe, D.2, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 569969
DOI: 10.1063/1.3560308
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Alternativer Titel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 98 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 103504-1 - 103504-3 Identifikator: -