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  Comprehensive comparison of various techniques for the analysis of elemental distributions in thin films

Abou-Ras, D., Caballero, R., Fischer, C.-H., Kaufmann, C., Lauermann, I., Mainz, R., et al. (2011). Comprehensive comparison of various techniques for the analysis of elemental distributions in thin films. Microscopy and Microanalysis, 17, 728-751.

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Urheber

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 Urheber:
Abou-Ras, D., Autor
Caballero, R., Autor
Fischer, C.-H., Autor
Kaufmann, C., Autor
Lauermann, I., Autor
Mainz, R., Autor
Mönig, H., Autor
Schöpke, A., Autor
Stephan, C., Autor
Streeck, C., Autor
Schorr, S., Autor
Eicke, A., Autor
Döbeli, M., Autor
Gade, B., Autor
Hinrichs, J., Autor
Nunney, T., Autor
Dijkstra, H., Autor
Hoffmann, V., Autor
Klemm, D., Autor
Efimova, V., Autor
Bergmaier, A., AutorDollinger, G., AutorWirth, T., AutorUnger, W., AutorRockett, A. A., AutorPerez Rodriguez, A., AutorAlvarez Garcia, J., AutorIzquierdo-Roca, V., AutorSchmid, T., AutorChoi, P.1, Autor           Müller, M., AutorBertram, F., AutorChristen, J., AutorKhatri, H., AutorCollins, R. W., AutorMarsillac, S., AutorKötschau, I., Autor mehr..
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2011
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 624666
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Alternativer Titel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 17 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 728 - 751 Identifikator: -