Numerical simulation of probing the electric double layer by scanning 
electrochemical Potential microscopy

Hamou, R. F.; Biedermann, P. U.; Erbe, A.; Rohwerder, M.

Numerical simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical Potential microscopy

Hamou, R. F., Biedermann, P. U., Erbe, A., & Rohwerder, M. (2010). Numerical simulation of probing the electric double layer by scanning electrochemical Potential microscopy. Talk presented at 217th ECS Meeting. Vancouver, Canada. 2010-04-25 - 2010-04-30.

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資料種別: 講演

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Hamou, R. F.¹, 著者
Biedermann, P. U.², 著者
Erbe, A.³, 著者
Rohwerder, M.^{1, 4}, 著者

所属:
1Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360
2Atomistic Modelling, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863350
3Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358
4Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352

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