Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

 
 
DownloadE-Mail
  SECPM Study: Influence of the Tip Material and Its Coating on the Accuracy of Potential Profiling Across Electrical Double Layer at Solid/Liquid Interface

Bashir, A., Muglali, M. I., Hamou, R. F., & Rohwerder, M. (2010). SECPM Study: Influence of the Tip Material and Its Coating on the Accuracy of Potential Profiling Across Electrical Double Layer at Solid/Liquid Interface. Talk presented at 217th ECS Meeting. Vancouver, Canada. 2010-04-25 - 2010-04-30.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Bashir, A.1, Autor           
Muglali, M. I.1, Autor           
Hamou, R. F.1, Autor           
Rohwerder, M.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360              
2Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 476019
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: 217th ECS Meeting
Veranstaltungsort: Vancouver, Canada
Start-/Enddatum: 2010-04-25 - 2010-04-30

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: