Statistical Reliability of Phase Fraction Determination Based on Electron 
Backscatter Diffraction (EBSD) Investigations on the Example of an Al-TRIP Steel

Davut, K.; Zaefferer, S.

doi:10.1007/s11661-010-0315-2

Statistical Reliability of Phase Fraction Determination Based on Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Investigations on the Example of an Al-TRIP Steel

Davut, K., & Zaefferer, S. (2010). Statistical Reliability of Phase Fraction Determination Based on Electron Backscatter Diffraction (EBSD) Investigations on the Example of an Al-TRIP Steel. Metallurgical and Materials Transactions A, 41(9), 2187-2196. doi:10.1007/s11661-010-0315-2.

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資料種別: 学術論文

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Davut, K.¹, 著者
Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

日付: 出版: 2010

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 494486
DOI: 10.1007/s11661-010-0315-2

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出版物名: Metallurgical and Materials Transactions A

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 41 (9) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2187 - 2196 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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