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  Kelvin Probe Microscopy in Materials Science: Introduction, Overview and Future Perspectives

Rohwerder, M. (2009). Kelvin Probe Microscopy in Materials Science: Introduction, Overview and Future Perspectives. Talk presented at 23rd International Conference on Surface Modification Technologies (SMT 23). Chennai, India. 2009-11-02 - 2009-11-04.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-3E05-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-6D0F-2
Genre: Vortrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Rohwerder, Michael1, 2, Autor           
Affiliations:
1Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352              
2Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360              

Inhalt

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Schlagwörter: keynote
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 498674
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 23rd International Conference on Surface Modification Technologies (SMT 23)
Veranstaltungsort: Chennai, India
Start-/Enddatum: 2009-11-02 - 2009-11-04
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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