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  Screening effects in probing the double layer by scanning electrochemical potential microscopy

Hamou, R. F., Erbe, A., & Rohwerder, M. (2009). Screening effects in probing the double layer by scanning electrochemical potential microscopy. Poster presented at Comsol European Conference October 2009, Milan, Italy.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hamou, R. F.1, Autor           
Erbe, A.2, Autor           
Rohwerder, M.1, 3, Autor           
Affiliations:
1Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360              
2Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358              
3Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-10
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 450852
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Comsol European Conference October 2009
Veranstaltungsort: Milan, Italy
Start-/Enddatum: 2009-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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