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  Application of Atomic Force Microscopy in its Kelvin Probe Mode (SKPFM) over Filiform Corrosion of Aluminum Alloys

Senöz, C., & Rohwerder, M. (2009). Application of Atomic Force Microscopy in its Kelvin Probe Mode (SKPFM) over Filiform Corrosion of Aluminum Alloys. Poster presented at Workshop on Scanning Probe Microscopies and Organic Materials XVII, Bremen, Germany.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Senöz, Ceylan1, 2, Autor           
Rohwerder, Michael1, 2, Autor           
Affiliations:
1Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352              
2Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009-06
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 476834
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Workshop on Scanning Probe Microscopies and Organic Materials XVII
Veranstaltungsort: Bremen, Germany
Start-/Enddatum: 2009-06-15 - 2009-06-17

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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