Dielectric layers as antireflective coatings for ATR-IR spectroscopy

Reithmeier, M.; Erbe, A.

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Dielectric layers as antireflective coatings for ATR-IR spectroscopy

Reithmeier, M., & Erbe, A. (2009). Dielectric layers as antireflective coatings for ATR-IR spectroscopy. Poster presented at 4th International workshop on vibrational spectroscopy of thin films (VSM4), Potsdam, Germany.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-40E7-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-90FC-F

資料種別: ポスター

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Reithmeier, M.¹, 著者
Erbe, A.¹, 著者

所属:
1Interface Spectroscopy, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863358

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言語: eng - English

日付: 作成: 2009-06

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 450861

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