3D-orientation microscopy using FIB–EBSD tomography: An overview on techniques, 
applications and limits

Zaefferer, S.

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3D-orientation microscopy using FIB–EBSD tomography: An overview on techniques, applications and limits

Zaefferer, S. (2009). 3D-orientation microscopy using FIB–EBSD tomography: An overview on techniques, applications and limits. Talk presented at EMAS 2009. Gdańsk, Poland. 2009-05-13.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4131-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4133-1

資料種別: 講演

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Zaefferer, S.¹, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

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出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 498740

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