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  Advances in TEM orientation microscopy by combination of dark-field conical scanning and improved image matching

Wu, G., & Zaefferer, S. (2009). Advances in TEM orientation microscopy by combination of dark-field conical scanning and improved image matching. Ultramicroscopy, 109, 1317-1325.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wu, G.1, Autor           
Zaefferer, S.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2009
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 498760
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Ultramicroscopy
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 109 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1317 - 1325 Identifikator: -