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  3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S. (2008). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik. Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde. RWTH Aachen, Germany, 2008-10-23.

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Item Permalink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-458F-4 Version Permalink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4591-D
Genre: Teaching

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Creators

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 Creators:
Zaefferer, S.1, Author              
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Content

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Details

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Language(s): deu - German
 Dates:
 Publication Status: Not specified
 Pages: -
 Publishing info: -
 Table of Contents: -
 Rev. Method: -
 Identifiers: eDoc: 379782
 Degree: -

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Title: Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde
Place of Event: RWTH Aachen, Germany
Start-/End Date: 2008-10-23

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