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Datensatz

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  3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik

Zaefferer, S. (2008). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Möglichkeiten und Grenzen einer neuen Mikroskopietechnik. Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde. RWTH Aachen, Germany, 2008-10-23.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, S.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum:
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 379782
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Materialwissenschaftliches Kolloquium im Institut für Eisenhüttenkunde
Veranstaltungsort: RWTH Aachen, Germany
Start-/Enddatum: 2008-10-23

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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