Effects of Semiconducting Properties of Surface Oxide on the Delamination at 
the Polymer/Zinc Interface

Salgin, B.; Rohwerder, M.

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Effects of Semiconducting Properties of Surface Oxide on the Delamination at the Polymer/Zinc Interface

Salgin, B., & Rohwerder, M. (2008). Effects of Semiconducting Properties of Surface Oxide on the Delamination at the Polymer/Zinc Interface. Talk presented at SurMat Seminar. Kleve, Germany. 2008-08-12 - 2008-08-14.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-477F-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4781-5

資料種別: 講演

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作成者:
Salgin, B.¹, 著者
Rohwerder, M.^{1, 2}, 著者

所属:
1Molecular Structure and Surface Modification, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863360
2Christian Doppler Laboratory for Diffusion and Segregation Mechanisms, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863352

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言語: eng - English

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 582713

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