Orientation microscopy in the TEM – techniques, possibilities and limits

Zaefferer, S.

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Orientation microscopy in the TEM – techniques, possibilities and limits

Zaefferer, S. (2008). Orientation microscopy in the TEM – techniques, possibilities and limits. Institute for Materials Science, Lehigh University. Bethlehem [USA], 2008-05-29.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4985-D 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-4987-9

資料種別: 教材

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Zaefferer, S.¹, 著者

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1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391

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言語: eng - English

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 378201

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