Impedance spectroscopy on thin (d ≈ 4 nm) tantalum oxide films

Bruder, K.; Hassel, A. W.; Mildner, B.; Diesing, D.

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Impedance spectroscopy on thin (d ≈ 4 nm) tantalum oxide films

Bruder, K., Hassel, A. W., Mildner, B., & Diesing, D. (2007). Impedance spectroscopy on thin (d ≈ 4 nm) tantalum oxide films. Talk presented at EIS 2007, 7th International Symposium on Electrochemical Impedance Spectroscopy. Argelès-sur-Mer, France. 2007-06-03 - 2007-06-08.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-527A-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0002-C4D8-D

資料種別: 講演

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Bruder, K.¹, 著者
Hassel, A. W.¹, 著者
Mildner, B., 著者
Diesing, D., 著者

所属:
1Electrochemistry and Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863355

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言語: eng - English

日付: 作成: 2007-06

出版の状態: 不明

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 319248

学位: -

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