Boron analysis using EDX in SEM and TEM

Birajdar, B.; Peranio, N.; Eibl, O.

Boron analysis using EDX in SEM and TEM

Birajdar, B., Peranio, N., & Eibl, O. (2007). Boron analysis using EDX in SEM and TEM. Microscopy and Microanalysis, 13(3), 290-291.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5514-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5516-6

資料種別: 会議論文

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Birajdar, B., 著者
Peranio, N.¹, 著者
Eibl, O., 著者

所属:
1Theory and Simulation, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863392

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言語: eng - English

日付: 出版: 2007

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 321587

学位: -

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出版物名: Microscopy and Microanalysis

出版物の別名 : Microsc. Microanal.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 13 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 290 - 291 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1431-9276

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