3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Eine neue Dimension der 
Materialcharakterisierung

Bastos, A.; Zaefferer, S.; Raabe, D.

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3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Eine neue Dimension der Materialcharakterisierung

Bastos, A., Zaefferer, S., & Raabe, D. (2006). 3D-Orientierungsmikroskopie mittels FIB-SEM: Eine neue Dimension der Materialcharakterisierung. Talk presented at DGM, 5. AK-Treffen - Mikrostrukturcharakterisierung im REM. Halle, Germany. 2006-06.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5938-B Version Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-593A-7

Genre: Talk

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Creators:
Bastos, A., Author
Zaefferer, S.¹, Author
Raabe, D.², Author

Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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Language(s): deu - German

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Identifiers: eDoc: 287842

Degree: -

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Title: DGM, 5. AK-Treffen - Mikrostrukturcharakterisierung im REM

Place of Event: Halle, Germany

Start-/End Date: 2006-06

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