Möglichkeiten und Grenzen der Orientierungsmikroskopie im 
Rasterelektronenmikroskop

Zaefferer, S.

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Möglichkeiten und Grenzen der Orientierungsmikroskopie im Rasterelektronenmikroskop

Zaefferer, S. (2005). Möglichkeiten und Grenzen der Orientierungsmikroskopie im Rasterelektronenmikroskop. Talk presented at Materialographietagung. Erlangen. 2005-09-15.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5E1F-8 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5E21-F

Genre: Vortrag

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Urheber:
Zaefferer, S.¹, Autor

Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391