Characterization of Nanostructured Electrodeposited NiCo Samples by use of 
Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Bastos, A.; Zaefferer, S.; Raabe, D.

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Characterization of Nanostructured Electrodeposited NiCo Samples by use of Electron Backscatter Diffraction (EBSD)

Bastos, A., Zaefferer, S., & Raabe, D. (2005). Characterization of Nanostructured Electrodeposited NiCo Samples by use of Electron Backscatter Diffraction (EBSD). Talk presented at Conference on Textures of Materials ICOTOM 14. Leuven, Belgium. 2005-07.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5F37-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-5F39-6

資料種別: 講演

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Bastos, A., 著者
Zaefferer, S.¹, 著者
Raabe, D.², 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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言語: eng - English

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識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 287847

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