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  Quantitative EDX analysis of Bi2Te3 in the TEM

Peranio, N., & Eibl, O. (2005). Quantitative EDX analysis of Bi2Te3 in the TEM.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-62EF-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-62F1-2
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Peranio, N.1, Autor           
Eibl, O., Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2005
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 79
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 321589
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy conference 2005
Veranstaltungsort: Davos, Switzerland
Start-/Enddatum: 2005

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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