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  Grundlagen und Anwendung einer neuen höhenregulierten Raster-Kelvin-Sonde für die Korrosionsforschung und Haftung auf Oberflächen

Grundmeier, G. (2004). Grundlagen und Anwendung einer neuen höhenregulierten Raster-Kelvin-Sonde für die Korrosionsforschung und Haftung auf Oberflächen. Talk presented at 79. AGEF-Symposium, 25 Jahre Elektrochemie in Düsseldorf, Heinrich-Heine-Universität. Düsseldorf, Germany. 2004-11-18 - 2004-11-19.

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Item Permalink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-6339-7 Version Permalink: http://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-633B-3
Genre: Talk

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Creators

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 Creators:
Grundmeier, G.1, 2, Author              
Affiliations:
1Adhesion and Thin Films, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863349              
2Christian Doppler Laboratory for Metal/Polymer Interfaces, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863353              

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Details

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Language(s):
 Dates:
 Publication Status: Not specified
 Pages: -
 Publishing info: -
 Table of Contents: -
 Rev. Method: -
 Identifiers: eDoc: 206619
 Degree: -

Event

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Title: 79. AGEF-Symposium, 25 Jahre Elektrochemie in Düsseldorf, Heinrich-Heine-Universität
Place of Event: Düsseldorf, Germany
Start-/End Date: 2004-11-18 - 2004-11-19

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