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  The Electron Backscatter Diffraction Technique - A Powerful Tool to Study Microstructures by SEM

Zaefferer, S. (2004). The Electron Backscatter Diffraction Technique - A Powerful Tool to Study Microstructures by SEM. JEOL News, 39, 10-15.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-6813-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-6815-2
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaefferer, S.1, Autor           
Affiliations:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2004
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 204099
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: JEOL News
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 39 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 10 - 15 Identifikator: -