Controlling Film Properties in Microstructures on Single Grains of Titanium; A 
SDC, SECM and Imaging Ellipsometry Study

Hassel, A. W.; Fushimi, K.; Stratmann, M.; Seo, M.

Controlling Film Properties in Microstructures on Single Grains of Titanium; A SDC, SECM and Imaging Ellipsometry Study

Hassel, A. W., Fushimi, K., Stratmann, M., & Seo, M. (2003). Controlling Film Properties in Microstructures on Single Grains of Titanium; A SDC, SECM and Imaging Ellipsometry Study. Talk presented at 54rd Annual Meeting of the International Society of Electrochemistry. Sao Pedro, Brazil. 2003-08-31 - 2003-09-05.

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資料種別: 講演

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Hassel, A. W.¹, 著者
Fushimi, K.¹, 著者
Stratmann, M.², 著者
Seo, M., 著者

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1Electrochemistry and Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863355
2Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863348

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