Transient states in the breakdown of thin oxide films

Diesing, D.; Hassel, A. W.

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Transient states in the breakdown of thin oxide films

Diesing, D., & Hassel, A. W. (2001). Transient states in the breakdown of thin oxide films. Talk presented at Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft. Hamburg, Germany. 2001-03-21 - 2001-03-24.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-70D0-C Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-70D2-8

Genre: Vortrag

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Urheber:
Diesing, D., Autor
Hassel, A. W.¹, Autor

Affiliations:
1Electrochemistry and Corrosion, Interface Chemistry and Surface Engineering, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863355