Processes in Thin Aluminium Oxide Films Monitored by High Resolution Current 
Transients

Hassel, A. W.

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存

一時保存へ追加

Processes in Thin Aluminium Oxide Films Monitored by High Resolution Current Transients

Hassel, A. W. (1998). Processes in Thin Aluminium Oxide Films Monitored by High Resolution Current Transients. Talk presented at 1998 Joint Meeting of the Electrochemical Society of Japan, The Surface Finishing Society of Japan and the Japan Society of Corrosion Engineering. Sapporo, Japan. 1998-01-16 - 1998-01-16.

Item is 公開

表示: 全項目非表示: 全項目

基本情報

表示: 非表示:

アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-7301-4 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-7303-F

資料種別: 講演

ファイル

表示: ファイル

作成者

表示:

非表示:

作成者:
Hassel, A. W.¹, 著者

所属:
1External Organizations, ou_persistent22

内容説明

表示:

資料詳細

表示:

非表示:

言語:

日付:

出版の状態: 不明

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 230047

学位: -

アイテム詳細

基本情報

ファイル

関連URL

作成者

内容説明

資料詳細

関連イベント

訴訟

Project information

出版物