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  Interface structure of epitaxial (111) VN films on (111) MgO substrates

Lazar, P., Rashkova, B., Redinger, J., Podloucky, R., Mitterer, C., Scheu, C., & Dehm, G. (2008). Interface structure of epitaxial (111) VN films on (111) MgO substrates. Thin Solid Films, 517(3), 1177-1181. doi:10.1016/j.tsf.2008.06.006.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-54A9-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0001-6D43-A
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Lazar, Petr1, 著者           
Rashkova, Boryana2, 3, 著者           
Redinger, Josef1, 著者           
Podloucky, Raimund4, 著者           
Mitterer, Christian5, 著者           
Scheu, Christina6, 著者           
Dehm, Gerhard2, 3, 著者           
所属:
1Institute of Applied Physics, Vienna University of Technology, Vienna, Austria, ou_persistent22              
2Erich-Schmid-Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              
3Department of Materials Physics, Montanuniversität Leoben, Austria, ou_persistent22              
4Department of Physical Chemistry, Vienna University, Vienna, Austria, ou_persistent22              
5Department of Physical Metallurgy and Materials Testing, Christian-Doppler Laboratory for Advanced Coatings, University of Leoben, Austria, ou_persistent22              
6Department Physical Metallurgy and Materials Testing, Montanuniversität Leoben, Franz-Josef-Str. 18, 8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Vanadium nitride VN was grown epitaxially on (111) MgO by reactive magnetron sputtering. The substrate preparation and deposition conditions cause an interface roughness of 2–3 nm. The lattice mismatch of cube-on-cube orientation relationship between (111) VN and (111) MgO is relaxed by misfit dislocations. Ab-initio simulations were employed to calculate the lowest energy configuration of the coherent parts of the interface. This is accomplished by an O termination of the MgO and V termination of VN at the interface.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2008-06-092008-12-01
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1016/j.tsf.2008.06.006
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Thin Solid Films
  省略形 : Thin Solid Films
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Lausanne, Switzerland, etc. : Elsevier
ページ: - 巻号: 517 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1177 - 1181 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0040-6090
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925449792