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  Post-Issue Patent Quality Control: A Comparative Study of US Patent Re-Examinations and European Patent Oppositions

Graham, S. J. H., Hall, B. H., Harhoff, D., & Mowery, D. C. (2003). Post-Issue Patent Quality Control: A Comparative Study of US Patent Re-Examinations and European Patent Oppositions. In W. M. Cohen, & S. A. Merrill (Eds.), Patents in the Knowledge-Based Economy (pp. 74-119). Washington, D. C.: The National Academic Press.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-B972-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0019-B973-E
Genre: Beitrag in Sammelwerk

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Graham, Stuart J. H.1, Autor
Hall, Bronwyn H.1, Autor
Harhoff, Dietmar1, Autor           
Mowery, David C.1, Autor
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2003
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Patents in the Knowledge-Based Economy
Genre der Quelle: Sammelwerk
 Urheber:
Cohen, Wesley M. 1, Herausgeber
Merrill, S. A.1, Herausgeber
Affiliations:
1 External Organizations, ou_persistent22            
Ort, Verlag, Ausgabe: Washington, D. C. : The National Academic Press
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 74 - 119 Identifikator: ISBN: 0-309-08636-1