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  Deuterium depth profile quantification in a ASDEX Upgrade divertor tile using secondary ion mass spectrometry

Ghezzi, F., Caniello, R., Giubertoni, D., Bersani, M., Hakola, A., Mayer, M., et al. (2014). Deuterium depth profile quantification in a ASDEX Upgrade divertor tile using secondary ion mass spectrometry. Applied Surface Science, 315, 459-466. doi:10.1016/j.apsusc.2014.06.091.

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Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2014.06.091 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Ghezzi , F.1, Autor
Caniello, R.1, Autor
Giubertoni, D.1, Autor
Bersani, M.1, Autor
Hakola, A.1, Autor
Mayer, M.2, Autor           
Rohde, V.2, Autor           
Anderle, M.1, Autor
ASDEX Upgrade Team, Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, Autor              
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 20142014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.apsusc.2014.06.091
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Amsterdam : Elsevier B.V.
Seiten: - Band / Heft: 315 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 459 - 466 Identifikator: ISSN: 0169-4332
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928576736