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  In Situ Electron Microscopy and Micro-Laue Study of Plasticity in Miniaturized Cu Bicrystals

Imrich, P. J., Kirchlechner, C., Motz, C., Jeon, J. B., & Dehm, G. (2014). In Situ Electron Microscopy and Micro-Laue Study of Plasticity in Miniaturized Cu Bicrystals. Talk presented at CAMTEC III, Symposium on Fine-Scale Mechanical Characterisation and Behaviour. Cambridge, UK. 2014-04-07 - 2014-04-08.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Imrich, Peter Julian1, Autor           
Kirchlechner, Christoph2, Autor           
Motz, Christian3, Autor           
Jeon, Jong Bae4, Autor           
Dehm, Gerhard4, Autor           
Affiliations:
1Erich-Schmid-Institute of Materials Science, Austrian Academy of Sciences, Jahnstrasse 12, 8700 Leoben, Austria, ou_persistent22              
2Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
3Department of Materials Science, Saarland University, Saarbrücken, Germany, ou_persistent22              
4Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: CAMTEC III, Symposium on Fine-Scale Mechanical Characterisation and Behaviour
Veranstaltungsort: Cambridge, UK
Start-/Enddatum: 2014-04-07 - 2014-04-08
Eingeladen: Ja

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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