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  Analytical and numerical depth resolution functions in sputter profiling

Hofmann, S., Liu, Y., Wang, J. Y., & Kovac, J. (2014). Analytical and numerical depth resolution functions in sputter profiling. Applied Surface Science, 314, 942-955. doi:10.1016/j.apsusc.2014.06.159.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hofmann, S.1, Autor           
Liu, Y.2, Autor
Wang, J. Y.2, Autor
Kovac, J.3, Autor
Affiliations:
1Emeriti and Others, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497650              
2Department of Physics, Shantou University, 243 Daxue Road, Shantou, 515063 Guangdong, China, ou_persistent22              
3Department of Surface Engineering and Optoelectronics F4, Jozef Stefan Institute, Jamova 39, 1000 Ljubljana, Slovenia, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Emeriti and Others Received 9 May 2014, Revised 26 June 2014, Accepted 26 June 2014, Available online 5 July 2014
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.apsusc.2014.06.159
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Surface Science
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 314 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 942 - 955 Identifikator: -