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  Polarized Fourier Transform Infrared Microscopy as a Tool for Structural Analysis of Adsorbates in Molecular Sieves

Schüth, F. (1992). Polarized Fourier Transform Infrared Microscopy as a Tool for Structural Analysis of Adsorbates in Molecular Sieves. The Journal of Physical Chemistry, 96(19), 7493-7496. doi:10.1021/j100198a003.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Schüth, F.1, 著者           
所属:
1lnstitut für Anorganische und Analytische Chemie, Johannes Gutenberg-Universität, 55099 Mainz, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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キーワード: -
 要旨: Using FTIR microscopy with polarized IR radiation on silicalite I single crystals fully loaded with p-xylene, the existence of an
ordered adsorbate could be proven for the
first time by IR spectroscopy.
By
analyzing
the
polarized absorption bands
the
orientation
of
the
p-xylene molecules relative to
the
host
structure
could
be
determined.
The
results
agree
well
with
structural
data
obtained
from
X-ray
diffraction experiments. These first results suggest
that
polarized
IR
microscopy
could
develop
into
a
powerful
tool
for
the
analysis
of
adsorbate structures, assisting
in
complete
structure
resolution
by
diffraction
techniques.

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 1992-05-261992-09-01
 出版の状態: 出版
 ページ: 4
 出版情報: -
 目次: -
 査読: 査読あり
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1021/j100198a003
 学位: -

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出版物 1

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出版物名: The Journal of Physical Chemistry
  省略形 : J. Phys. Chem.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Washington, D.C. : American Chemical Society
ページ: - 巻号: 96 (19) 通巻号: - 開始・終了ページ: 7493 - 7496 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1932-7447
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954926947766_3