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  Thickness dependent exchange bias in martensitic epitaxial Ni–Mn–Sn thin films

Behler, A., Teichert, N., Dutta, B., Waske, A., Hickel, T., Auge, A., Hütten, A., & Eckert, J. (2013). Thickness dependent exchange bias in martensitic epitaxial Ni–Mn–Sn thin films. AIP Advances, 3(12):. doi:10.1063/1.4849795.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-B37A-2 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0024-B37F-7
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Behler, Anna1, 2, 著者           
Teichert, Niclas3, 著者           
Dutta, Biswanath4, 著者           
Waske, Anja1, 著者           
Hickel, Tilmann4, 著者           
Auge, Alexander3, 著者           
Hütten, Andreas3, 著者           
Eckert, Jürgen1, 5, 著者           
所属:
1IFW Dresden, Institute for Complex Materials, P.O. Box 27 01 16, 01171 Dresden, Germany, ou_persistent22              
2Department of Physics, Institute for Solid State Physics, Dresden University of Technology, 01062 Dresden, Germany, ou_persistent22              
3Department of Physics, Thin Films and Physics of Nanostructures, Bielefeld University, 33501 Bielefeld, Germany, ou_persistent22              
4Computational Phase Studies, Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863341              
5TU Dresden, Institute of Materials Science, Helmholtzstr. 7, 01069 Dresden, Germany, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2013-09-052013-12-022013-12-102013
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1063/1.4849795
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: AIP Advances
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 3 (12) 通巻号: 122112 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: DOI: 10.1063/1.4849795