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  Domain wall pinning in ultra-narrow electromigrated break junctions

Reeve, R. M., Loescher, A., Mawass, M.-A., Hoffmann-Vogel, R., & Kläui, M. (2014). Domain wall pinning in ultra-narrow electromigrated break junctions. Journal of Physics: Condensed Matter, 26(47): 474207. doi:10.1088/0953-8984/26/47/474207.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Reeve, R. M.1, Autor
Loescher, A.1, Autor
Mawass, M.-A.2, Autor           
Hoffmann-Vogel, R.3, Autor
Kläui, M.1, Autor
Affiliations:
1Institut für Physik, Johannes Gutenberg-Universität Mainz, 55099 Mainz, Germany, ou_persistent22              
2Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              
3Physikalisches Institut and DFG-Center for Functional Nanostructures, Karlsruhe Institute of Technology, Campus South, 76128 Karlsruhe, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 9
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1088/0953-8984/26/47/474207
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Physics: Condensed Matter
  Kurztitel : J. Phys.: Condens. Matter
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Bristol : IOP Publishing
Seiten: - Band / Heft: 26 (47) Artikelnummer: 474207 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0953-8984
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954928562478