The Scanning Kelvin Probe as a New Technique to Analyze Buried Interfaces

Rohwerder, Michael; Stratmann, Martin

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The Scanning Kelvin Probe as a New Technique to Analyze Buried Interfaces

Rohwerder, M., & Stratmann, M. (1999). The Scanning Kelvin Probe as a New Technique to Analyze Buried Interfaces. Talk presented at 196th meeting of the ECS. Honolulu, USA. 1999-10-17 - 1999-10-22.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-752C-3 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0025-752D-1

資料種別: 講演

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Rohwerder, Michael¹, 著者
Stratmann, Martin², 著者

所属:
1Institut für Werkstoffwissenschaften IV, Universität Erlangen, 91058 Erlangen, Germany, ou_persistent22
2Institut für Werkstoffwissenschaften IV, Universität Erlangen, Erlangen, D-91058, Germany, ou_persistent22

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キーワード: Presenter: Rohwerder, M.

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 作成: 1999-10

出版の状態: 不明

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